Die Hochschule Bremen hat gemeinsam mit Partnern im BMBF-Projekt eboLED eine revolutionäre Messmethode für LED-Optiken entwickelt, die durch das DPMA-Patent 10 2016 209 090.9 geschützt ist. Mit nur einer Aufnahme wird der vollständige Strahlverlauf exakt erfasst. Dadurch entfällt aufwändige Mechanik, Messzeiten verkürzen sich deutlich und die Technologie eignet sich ideal für industrielle Einsatzgebiete, in denen Sicherheitsanforderungen hoch sind und digitale Rekonstruktionen komplexer Optiken benötigt werden. Echtzeitüberwachung und Qualitätssicherung. optimal ermöglicht.
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Methode erfasst Strahlverlauf in einer Aufnahme ohne mechanische Bewegung
Die zunehmende Verbreitung von LED-Leuchten bringt erhebliche Vorteile, erfordert aber präzise Kontrolle der Strahlabgabe. Für Sicherheitsfeuer in Windparks, Flugzeugen und Schiffen sind exakte Messergebnisse unumgänglich, um regulatorische Standards einzuhalten. Im eboLED-Projekt des Instituts für Mikroelektronik, Mikromechanik und Mikrooptik der Hochschule Bremen wurden daher innovative Verfahren konzipiert, die eine lückenlose Erfassung des Strahlverlaufs in einer einzigen Aufnahme erlauben und in dem DPMA-Patent 10 2016 209 090.9 dokumentiert sind. effizient, skalierbar nachhaltig
Hochpräzise Ergebnisse trotz erheblichem Aufwand und eingeschränkter industrieller Skalierbarkeit
Im ursprünglichen ERT-Verfahren kamen umfangreiche optisch-mechanische Teststände zum Einsatz, die viel Raum belegten und langwierige Justierungen erforderten. Ein eng gebündelter Lichtstrahl wurde Schritt für Schritt an definierten Punkten hinter dem Prüfobjekt positioniert, um das Abstrahlverhalten zu kartieren und daraus Rückschlüsse auf die Oberflächengeometrie zu ziehen. Die hohe Datengenauigkeit ging jedoch mit erheblichem Zeit-, Personal- und Kostenaufwand einher, wodurch das Verfahren nicht für industrielle Abläufe geeignet war. Zudem verhinderte die Automatisierung.
Spezielle Struktur fängt Lichtstrahl ein und ermöglicht präzise Reflexionsmessung
Gemäß DPMA-Anmeldung 10 2016 209 090.9 fängt eine hinter der Probe platzierte reflektierende Geometrie den austretenden Lichtkegel ein und führt ihn über mehrere Oberflächen hinweg. Die mehrfach reflektierten Strahlen erzeugen ein charakteristisches Punktfeld, das eine einzelne Kamera in einer einzigen Belichtung aufzeichnet. Algorithmisch werden aus den Koordinaten und Abständen der Punkte Rückschlüsse auf die Strahlform gezogen. Dieses Prinzip eliminiert aufwendige Positionsjustagen sowie wiederholte Messzyklen vollständig. Es steigert Durchsatzrate Zuverlässigkeit signifikant.
Reduzierter Messaufwand dank Einmalaufnahme schafft schnelle und effiziente Prüfabläufe
Durch die einmalige Strahldurchlaufsmessung reduziert sich die Prüfzeit erheblich, da nur eine Aufnahme notwendig ist. Das kompakte Messgerät lässt sich problemlos in enge Fertigungsumgebungen integrieren. Kürzere Messintervalle steigern nicht nur die Effizienz, sondern senken auch die Stückkosten. Sicherheitsrelevante LED-Optiken können damit kontinuierlich und automatisiert kontrolliert werden. Folglich eröffnen sich erweiterte Einsatzmöglichkeiten in Windkraftanlagen, Flugzeugen und Schiffen. weltweit unter Einhaltung gesetzlicher Vorgaben bauteilgenau geprüft werden. Innovationstreiber profitieren von der Verfahrensoptimierung und
Digitale Transformation Cluster nutzt KI für automatisierte optische Analysen
Das I3m der HSB verfolgt das Ziel, optische Komponenten in Form digitaler Zwillinge zu reproduzieren, wobei sowohl Geometrie als auch lichttechnische Eigenschaften exakt erfasst werden. Gleichzeitig werden experimentelle Verfahren zur Vermessung von Gleitsichtbrillen weiterentwickelt, um deren optische Wirkung unter individuellen Sehsituationen realitätsnah zu simulieren. Ergänzend setzen Forscher des Clusters „Digitale Transformation“ KI-Algorithmen ein, um Analyseprozesse zu automatisieren und adaptive, selbstoptimierende Systeme zu realisieren mit hohem Praxisnutzen und Zukunftspotenzial, sicher, effizient.
Patentierte Struktur erfasst Strahlverlauf in einmaliger Aufnahme ohne Mechanik
Im industriellen Umfeld bietet das im DPMA-Patent 10 2016 209 090.9 geschützte Verfahren eine kompakte Prüfanlage, die sich direkt in Produktionslinien integrieren lässt. Eine einzigartige Spiegelstruktur hinter der LED-Optik erzeugt multiple Reflektionen, die eine Kamera in einem einzigen Foto aufnimmt. Anschließend werden aus den erfassten Lichtpunkten mithilfe automatisierter Algorithmen exakte Strahlverläufe errechnet. Die Methode steigert die Durchsatzleistung, minimiert den Platzbedarf und gewährleistet hohe Reproduzierbarkeit bei konstant niedrigen Kosten und Produktionssicherheit.
